Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.nlu.edu.ua/jspui/handle/123456789/18335| Название: | Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку |
| Авторы: | Каданер, О.В. |
| Ключевые слова: | аутентичные материалы подготовка специалистов по иностранному языку иностранный язык |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издательство: | Львів : ГО «Наукова філологічна організація «ЛОГОС» |
| Библиографическое описание: | Каданер О. В. Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку / О. В. Каданер // Мова у світлі класичної спадщини та сучасних парадигм : матеріали міжнар. наук.-практ. конф., м. Львів, 10–11 берез. 2017 р. – Львів, 2017. – С. 63–66. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.nlu.edu.ua/handle/123456789/18335 |
| Располагается в коллекциях: | Тези, доповіді кафедри іноземних мов № 1 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Kadaner_63-66.pdf | 40.23 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.