Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.nlu.edu.ua/jspui/handle/123456789/18335
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Каданер, О.В. | - |
dc.date.accessioned | 2020-12-15T19:19:49Z | - |
dc.date.available | 2020-12-15T19:19:49Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Каданер О. В. Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку / О. В. Каданер // Мова у світлі класичної спадщини та сучасних парадигм : матеріали міжнар. наук.-практ. конф., м. Львів, 10–11 берез. 2017 р. – Львів, 2017. – С. 63–66. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://dspace.nlu.edu.ua/handle/123456789/18335 | - |
dc.language.iso | other | ru_RU |
dc.publisher | Львів : ГО «Наукова філологічна організація «ЛОГОС» | ru_RU |
dc.subject | аутентичные материалы | ru_RU |
dc.subject | подготовка специалистов по иностранному языку | ru_RU |
dc.subject | иностранный язык | ru_RU |
dc.title | Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | Тези, доповіді кафедри іноземних мов № 1 |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Kadaner_63-66.pdf | 40.23 kB | Adobe PDF | ![]() Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.