Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.nlu.edu.ua/jspui/handle/123456789/18335| Title: | Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку |
| Authors: | Каданер, О.В. |
| Keywords: | аутентичные материалы подготовка специалистов по иностранному языку иностранный язык |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | Львів : ГО «Наукова філологічна організація «ЛОГОС» |
| Citation: | Каданер О. В. Технологические основания оценки качества подготовки специалистов по иностранному языку / О. В. Каданер // Мова у світлі класичної спадщини та сучасних парадигм : матеріали міжнар. наук.-практ. конф., м. Львів, 10–11 берез. 2017 р. – Львів, 2017. – С. 63–66. |
| URI: | https://dspace.nlu.edu.ua/handle/123456789/18335 |
| Appears in Collections: | Тези, доповіді кафедри іноземних мов № 1 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Kadaner_63-66.pdf | 40.23 kB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.